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  • 2024

    9-26

    臺式電鏡SEM是一種強大的分析工具,它利用聚焦的電子束掃描樣品表面,通過檢測產生的二次電子和背散射電子信號來呈現樣品表面的高分辨率圖像。這種技術在材料科學、生物學、冶金學以及許多其他領域都得到了廣泛應用。臺式電鏡SEM的選購指南:-性能參數:選購時,放大倍數和分辨率是核心考量因素。放大倍數直接影響到你能看到多少細節,而分辨率決定了這些細節的清晰度。當前市場上的臺式SEM通常能提供從幾十倍到數十萬倍的放大倍數,而分辨率可達到納米級。-電子源類型:電子源是SEM的心臟部分,影響著...

  • 2024

    9-20

    穩態瞬態熒光光譜儀結合了穩態熒光光譜儀和瞬態熒光光譜儀的功能,能夠同時提供物質在穩態和瞬態條件下的熒光光譜信息。穩態熒光光譜儀主要用于測量物質在受激發光后進入平衡狀態下的發光性質,而瞬態熒光光譜儀則用于研究物質在受激發光后,發光強度隨時間的變化過程。主要功能:1.穩態熒光光譜測量激發譜:測量樣品在不同波長激發光下的熒光強度。發射譜:測量樣品在特定波長激發光下的熒光發射光譜。同步譜、EEM三維譜及動態掃描:提供多維度的光譜信息,有助于深入研究樣品的熒光特性。2.瞬態熒光光譜測量...

  • 2024

    9-20

    臺式電鏡SEM,即掃描電子顯微鏡(ScanningElectronMicroscope),是利用電子束掃描樣品表面,通過收集二次電子、背散射電子等信號來獲取樣品表面形貌、組成和結構信息的顯微分析儀器,具有高分辨率、大景深、立體感強等特點,廣泛應用于材料科學、生物學、地質學、冶金學等領域?;竟ぷ髟硎牵弘娮訕尠l射出高速電子束,經過電磁透鏡系統聚焦成直徑為納米級別的細束;電子束在掃描線圈的作用下按照一定規律掃描樣品表面,與樣品相互作用產生二次電子、背散射電子等信號;這些信號被探...

  • 2024

    8-31

    X射線粉末衍射儀利用具有一定發散度的特征X光束照射多晶平板樣品。當X射線入射到晶體時,會在晶體中產生周期性變化的電磁場,引起原子中的電子振動。基于晶體結構的周期性,晶體中各個電子的散射波會相互干涉、相互疊加,形成衍射。散射波周相一致并相互加強的方向被稱為衍射方向,這些方向上的衍射線會被檢測并記錄下來。通過分析這些衍射線的強度和位置,可以推斷出晶體的結構信息。主要由以下四大部分組成:1.X射線發生器:產生X射線束,作為入射光源。2.測角儀:用于精確控制樣品和探測器之間的角度,確...

  • 2024

    8-27

    巖礦分析系統是一種用于地質樣品元素含量、元素形態和同位素比值分析的技術手段,它對于地球科學研究、礦產資源評估和環境監測具有重要意義,優勢特點體現在多個方面,這些特點不僅提高了分析的效率和準確性,而且拓寬了地質科學研究和應用的領域。1.快速高效-自動化程度高:通常具有高度自動化的特點,能夠在一套軟件上完成所有操作,大大提高了測量效率。-多元素同時分析:能夠實現高精度、高準確度的多元素(包括同位素)同時分析,這在傳統方法中是難以達到的。2.準確性和準確度-低檢出限:能夠達到超低的...

  • 2024

    8-20

    巖礦分析是對巖石、礦物等天然或人工材料進行化學成分和結構特征的系統鑒定過程,它是地質科學、環境科學以及材料科學中不可少的技術。巖礦分析系統的關鍵知識點:1.分析原理與技術-基本原理:巖礦分析基于物質的物理和化學性質,諸如密度、磁性、電性、光學特性以及化學反應特性等來進行。這些性質能夠幫助科學家識別并定量巖石和礦物中的組分。-分析方法:常用的巖礦分析方法包括X射線衍射(XRD)、X射線熒光光譜(XRF)、原子吸收光譜(AAS)、質譜分析(MS)等,這些技術能夠對巖石和礦物進行準...

  • 2024

    8-12

    超高壓XRD技術是一種利用X射線與物質相互作用,通過分析衍射圖譜來研究物質的物相和晶體結構的技術。這種技術在材料科學、物理學、化學等領域具有廣泛的應用。其優勢特點主要體現在以下幾個方面:1.物相和晶體結構的準確測定-物質組成分析:能夠準確測定物質的組成,包括晶體和非晶體的組成。-晶型識別:通過衍射圖譜可以識別不同的晶型,為材料的性質研究提供基礎。-分子結構分析:能夠分析分子內的成鍵方式、分子的構型和構象,從而深入了解物質的微觀結構。2.高壓環境下的研究能力-高壓實驗系統:配備...

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